Apple vào cuộc điều tra nguyên nhân pin iPhone 8 Plus bị phồng

Với thông tin báo cáo về việc pin iPhone 8 Plus 64GB và 256GB bị phồng gây bật màn hình trong quá trình sử dụng, Apple đã chính thức vào cuộc điều tra để đưa ra nguyên nhân thuyết phục nhất.

Hiện tại, đã có hai người dùng báo cáo về sự cố pin phồng trên iPhone 8 Plus, thậm chí pin phồng đẩy bật cả màn hình khỏi khung. Trường hợp đầu tiên khẳng định anh sử dụng sản phẩm Apple chính hãng cùng với củ sạc và cáp sạc chuẩn nhưng đã gặp phải tình trạng trên. Trong khi đó, người còn lại xác nhận chiếc iPhone của mình được mua thẳng từ Apple và cũng gặp hiện tượng pin phồng, các linh kiện bên trong cũng bị ảnh hưởng và nhô lên không đều, màn hình máy bị bật lên tạo khe hở rõ rệt. Kèm theo các ghi nhận, ta có thêm cả hình ảnh cho thấy tình trạng pin này trên iPhone 8 Plus

Apple đã tiến hành điều tra về cả những chiếc điện thoại này, cả pin iPhone và mọi thứ được cho là liên quan để xác nhận nguyên nhân chính thức, hoặc có thể do ngoại cảnh. Thông thường, một bộ phận riêng sẽ được giao nhiệm vụ kiểm tra chất lượng pin trên những chiếc iPhone cũ. Và lần này, họ nghĩ ngay tới nguyên nhân từng gây ra sự cố cháy nổ trên chiếc Samsung Galaxy Note7 vào năm ngoái. Samsung đã phải khắc phục 2 lần sự cố này trước khi quyết định thu hồi toàn bộ Galaxy Note7 đã bán ra. Tuy nhiên, tỉ lệ sự cố pin trên Note7 là 1 trên 20.000 máy, trong khi ở iPhone 8 Plus mới chỉ ghi nhận 2 trường hợp trong số hàng triệu máy. Bộ phận điều tra cũng chưa thấy có sự liên quan nào tới nguyên nhân vụ nổ trên Galaxy Note7.

Apple sẽ vẫn tiếp tục điều tra thêm và đưa đến kết luận để bảo vệ quyền lợi cửa người dùng, hoặc có những giải pháp thích hợp dành cho hai khách hàng kém may mắn trên.