Thiết kế quá đè nén đã khiến Galaxy Note 7 phát nổ

Theo báo cáo gần nhất, thiết kế viên pin của Note 7 chính là nguyên nhân khiến flagship này phát nổ. Thiết kế trên không trải qua bất kì kiểm duyệt nào ngoài những bài kiểm tra của Samsung.

Viên pin của Galaxy Note 7 gồm có một lớp polyme kép phủ chất điện phân, dùng để ngăn cách lớp lithium cobalt oxide mang điện cực dương và lớp than chì mang điện cực âm. Khi hai điện cực trái dấu này tiếp xúc, chất điện phân sẽ nóng lên và gây cháy nổ.

Báo cáo này chỉ ra rằng thiết kế của Samsung đã không để đủ khoảng trống cho viên pin có thể hoạt động một cách an toàn. Việc đè nén để pin vừa sở hữu dung lượng cao,vừa có được độ mỏng mà hãng mong muốn đã khiến cho hai lớp điện cực trái dấu bị ép vào nhau. Thêm vào đó, tác động lực của người dùng cũng đóng một vai trò nhỏ (ngồi đè lên máy, để máy trong balo,bị các vật thể khác chèn lên,...)

Điều này đáng lẽ có thể được phát hiện qua các bài kiểm tra. Tuy nhiên, Samsung đã bỏ qua các thủ tục cần thiết và tự mình xét duyệt thiết kế trên.

"Việc thiết kế và kiểm duyệt một sản phẩm mới ẩn chứa rất nhiều thử thách. Trong trường hợp này, hệ thống xét nghiệm cũng như những bài kiểm tra của Samsung đã không hoàn thành nhiệm vụ. Họ đã đưa đến tay người dùng một sản phẩm chưa được kiểm định kĩ lưỡng. Điều này đối với một công ti lớn thật đáng hổ thẹn." - Instrumental

Theo tính toán, Samsung phải chịu khoản lỗ 5 tỷ đô về lợi nhuận và các khoản phí khác trong việc thu hồi Galaxy Note 7.